合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 无损检测技术

> 3D化合物半导体芯片的检测方法

3D化合物半导体芯片的检测方法

662   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:15
本发明公开了一种3D化合物半导体芯片的检测方法,涉及3D化合物半导体芯片结构检测技术领域。微波检测方法,包括一个检测台所述检测台中部开设有一条两端贯通的滑槽,滑槽两侧内壁均固定连接有直角侧板,两个直角侧板之间转动连接有一排滚轴,芯片装载底板通过机械臂放置于滚轴表面。本发明通过检测台、检测箱和检测箱内部结构的设置,其具有不与芯片接触,不破坏芯片、无污染和非金属应有的特点,与被检测的芯片不需要直接的接触,能够距离芯片一定的距离或间隙进行检测,不会破坏芯片本身机构,属于无损检测,并在在这个检测的过程中,不需要对芯片通电,不需要耦合剂,避免耦合剂对芯片造成的污染。
声明:
“3D化合物半导体芯片的检测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
无损检测
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记