本发明提供了一种电阻器抗辐照能力无损筛选方法及装置,方法包括:获取作为随机子样的电阻器辐照前的电阻值和1/f噪声电压功率谱幅值;获取作为随机子样的电阻器经过辐照后的电阻值;基于辐照前的电阻器的电阻值和经过辐照后的电阻器的电阻值,计算辐照前后的电阻值漂移量;以1/f噪声电压功率谱幅值作为信息参数,以电阻值漂移量作为辐照性能参数,建立多元线性回归方程,并计算线性回归方程中的系数向量;基于系数向量,建立信息参数和辐照性能参数之间的无损筛选回归预测方程;利用所述无损筛选回归预测方程,对同批其他电阻器器件进行筛选。本发明能够实现在对电阻器无损坏的前提下,进行对元器件准确、高效的抗辐照能力的测试筛选。
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