本发明提供了一种脉冲宽度调制器抗辐照能力无损筛选方法及装置,方法包括:获取作为随机子样的脉冲宽度调制器辐照前的输出占空比和15Hz噪声点频值;获取作为随机子样的脉冲宽度调制器经过辐照后的输入灌电流;以输出占空比和15Hz噪声点频值作为信息参数,以输入灌电流作为辐照性能参数,建立多元线性回归方程,并计算线性回归方程中的系数向量;基于系数向量,建立所述信息参数和辐照性能参数之间的无损筛选回归预测方程;利用无损筛选回归预测方程,预测单个脉冲宽度调制器的抗辐照性能,对同批其他脉冲宽度调制器进行筛选。本发明能够实现在对脉冲宽度调制器无损坏的前提下,进行对元器件准确、高效的抗辐照能力的测试筛选。
声明:
“脉冲宽度调制器抗辐照能力无损筛选方法及装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)