合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 无损检测技术

> 光电耦合器抗辐照能力无损筛选方法及装置

光电耦合器抗辐照能力无损筛选方法及装置

1067   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:03
本发明提供了一种光电耦合器抗辐照能力无损筛选方法及装置,方法包括:获取作为随机子样的光电耦合器辐照前的电流传输比和1/f噪声幅值;获取作为随机子样的光电耦合器经过辐照后的电流传输比;计算辐照前后的电流传输比变化量;对数据进行预处理,以噪声幅值作为信息参数,以电流传输比变化量作为辐照性能参数,建立多元线性回归方程,并计算线性回归方程中的系数向量;基于系数向量,建立所述信息参数和辐照性能参数之间的无损筛选回归预测方程;利用无损筛选回归预测方程,预测单个光电耦合器件的抗辐照性能,对同批其他光电耦合器器件进行筛选。本发明能够实现在对光电耦合器无损坏的前提下,进行对元器件准确、高效的抗辐照能力的测试筛选。
声明:
“光电耦合器抗辐照能力无损筛选方法及装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
无损检测
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记