本发明提供了一种光电耦合器抗辐照能力无损筛选方法及装置,方法包括:获取作为随机子样的光电耦合器辐照前的电流传输比和1/f噪声幅值;获取作为随机子样的光电耦合器经过辐照后的电流传输比;计算辐照前后的电流传输比变化量;对数据进行预处理,以噪声幅值作为信息参数,以电流传输比变化量作为辐照性能参数,建立多元线性回归方程,并计算线性回归方程中的系数向量;基于系数向量,建立所述信息参数和辐照性能参数之间的无损筛选回归预测方程;利用无损筛选回归预测方程,预测单个光电耦合器件的抗辐照性能,对同批其他光电耦合器器件进行筛选。本发明能够实现在对光电耦合器无损坏的前提下,进行对元器件准确、高效的抗辐照能力的测试筛选。
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