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用于对薄层的厚度进行无损测量的测量探头

762   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:57:56
本发明涉及一种用于无损测量薄层厚度的测量探头,特别是空腔中的薄层,其通过开口可进入或是在弯曲表面上的,该测量探头具有测量头(17),其包括至少一个传感器元件(18)和分配到空腔(26)的待检查表面(27)上的传感器元件(18)上的至少一个接触球冠(31),并具有抓握元件(12),用于在待检表面(27)上和/或沿着待检表面(27)定位和引导测量探头(11),特征在于在抓握元件(12)上设置长的、弹性屈服的导杆(16),其在它的与抓握元件(12)相对的末端上接收至少一个测量头(17,60),以这种方式,测量头以相对于导杆(16)的至少一个自由度可移动。
声明:
“用于对薄层的厚度进行无损测量的测量探头” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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