权利要求书：
1.一种分体式涂层测厚仪，包括分体式涂层测厚仪本体(1)和后盖(2)，其特征在于，所述分体式涂层测厚仪本体(1)一侧外壁的底部开设有契合槽(8)，且后盖(2)契合在契合槽(8)的内部，所述契合槽(8)的两侧均开设有插槽(9)，且后盖(2)的两侧内壁上均焊接有插接在插槽(9)内部的插块(10)，所述后盖(2)远离分体式涂层测厚仪本体(1)另一侧外壁中心处的底部开设有定位孔(7)，且契合槽(8)靠近定位孔(7)的一侧开设有连通槽(11)，所述连通槽(11)的内部开设有限位槽(13)，且连通槽(11)的内部插接有延伸至限位槽(13)内部的定位块(12)。
2.根据权利要求1所述的一种分体式涂层测厚仪，其特征在于，所述定位块(12)处于限位槽(13)内部的一侧焊接有限位板(15)，且限位板(15)远离定位块(12)的另一侧焊接有弹簧(14)，所述定位块(12)在限位板(15)和弹簧(14)的作用下插接在定位孔(7)的内部。
3.根据权利要求1所述的一种分体式涂层测厚仪，其特征在于，所述分体式涂层测厚仪本体(1)顶部外壁的一侧设置有接线头(3)，且接线头(3)的外部螺纹连接有与接线头(3)之间呈电性连接的接线筒(4)。
4.根据权利要求3所述的一种分体式涂层测厚仪，其特征在于，所述接线筒(4)远离接线头(3)的一端一体成型有连接线(5)，且连接线(5)远离接线筒(4)的另一端一体成型有检测探头(6)。
5.根据权利要求1所述的一种分体式涂层测厚仪，其特征在于，所述分体式涂层测厚仪本体(1)靠近契合槽(8)的顶部一体成型有定位板(16)，且后盖(2)的顶部与定位板(16)之间相贴合。
说明书： 一种分体式涂层测厚仪技术领域[0001] 本实用新型涉及分体式涂层测厚仪技术领域，具体涉及一种分体式涂层测厚仪。背景技术[0002] 分体式涂层测厚仪可无损地测量磁性金属基体上非磁性涂层的厚度及非磁性金属基体上非导电覆层的厚度。分体式涂层测厚仪在不使用的时候，需要将测试探头从涂层测厚仪上拆卸放置于专门的放置箱中，而从而对分体式涂层测厚仪进行保护。[0003] 如授权公告号为CN214372167U，授权公告日为20211008的一种涂层测厚仪，具体涉及测厚仪技术领域，包括涂层测厚仪主体和探头，所述涂层测厚仪主体前侧设有校准机构，所述校准机构包括校准室，所述校准室
声明：
“分体式涂层测厚仪” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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编辑：中冶有色网
来源：深圳市三恩时科技有限公司
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2025年06月06日 ~ 08日 
