江西吉安有色金属无损检测技术理论与应用

改进型的服装加工用铺布机自动输送台 886     

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本实用新型提供一种改进型的服装加工用铺布机自动输送台，包括底座，铺布杆装置，检修工具箱，移动轮，电机支架，V带，传动电机，传动轮，输送带支撑装置，吹平照明装置，风管支撑板，风机，支撑杆，控制开关，分隔板和移动拉杆。本实用新型伸缩杆和伸缩筒的设置，有利于工作人员配合铺布机整理布面，解决了工人和机器在铺布时不能配合工作的问题；所述的动力电机和传送带的设置，有利于解决人工铺布速度慢的问题；出风吹平口的设置，有利于解决机械铺布易损伤布料的问题，使用风力将布面吹平对布面无损，从而间接的提高了布面的生产质量和加工速度，节约了验收成本。

二价铕激活锂硼酸盐闪烁玻璃及其制备方法 1002     

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本发明公开了一种热中子探测用二价铕激活锂硼酸盐闪烁玻璃及其制备方法，涉及无机稀土发光材料领域。本发明将三价铕(Eu³⁺)掺杂到锂硼酸盐玻璃体系中，通过玻璃中部分B₂O₃被0.1‑5mol％的BN替代后，即可在空气气氛中制备出透明的二价铕(Eu²⁺)激活锂硼酸盐闪烁玻璃。该锂硼酸盐闪烁玻璃体的组分及其百分含量分别为:Li₂O 0‑66.67mol％，B₂O₃0‑100mol％，BN 0‑8mol％，其余成分为外掺杂稀土Eu³⁺离子。所发明的锂硼酸盐玻璃中富含中子俘获截面较大⁶Li和(或)¹⁰B等化合物，通过核反应闪烁玻璃能高效地俘获中子能量并传递给二价铕离子发光中心，从而达到中子探测的目的。此外，由于玻璃固有的透明性，制备工艺简单，组分易调，可实现低成本、大体积等特点，使其在中子探测、中子飞行时间、石油测井、无损探伤及中子照相等领域中具有重要的应用价值。

电子纸模组及检测其崩边暗裂的方法 853     

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本发明公开了一种电子纸模组，包括TFT模组，所述TFT模组的中部设有显示区域，所述TFT模组上设有一圈金属环绕线，所述金属环绕线靠近TFT模组的边缘布线，且所述金属环绕线的两端接近但保持间距。通过修改TFT模组的结构设计，在TFT模组的崩边规格参数范围内，于TFT的边缘靠内走一圈金属环绕线。后续在大板上将一个个设有金属环绕线的小片TFT切割下来后，将各TFT模组的金属环绕线与测试电路连接，如果测得电路可以导通说明金属环绕线无损伤，也即证明该片TFT模组没有崩边或暗裂质量问题，反之则证明检测产品不合格。

塑料光纤信号检测装置 762     

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本实用新型提供了一种塑料光纤信号检测装置，其特征在于，包括外壳和上盖，外壳和上盖形成的容置腔内设置有用于固定弯曲被测塑料光纤的光纤弯曲定位器和光纤拉制件，被测光纤通过光纤拉制件并依次抵靠在两个光纤弯曲定位器的侧面形成光注入弯曲段、光传播直线段、光输出弯曲段；所述光传播直线段的一侧设置有用于将光信号射入被测光纤的光源，另一侧设置有用于记录射出被测光纤光功率的光电探测器；所述容置腔内还设置有模式选择模块和数据采集与处理模块，模式选择模块与光源以及设置在外壳上的模式选择按键电连接。本实用新型提供了一种塑料光纤信号检测装置，能够对塑料光纤进行无损测试，确定出现问题的具体位置。

高电导率非铁磁材料缺陷的磁声电检测方法与装置 864     

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本发明涉及一种缺陷检测方法与装置，尤其涉及一种高电导率非铁磁材料缺陷的磁声电检测方法与装置。一种通过声场和电磁场的多物理场耦合作用，有效提高检测的空间分辨率同时又能克服涡流检测由于趋肤效应仅能检测表面缺陷的缺点的高电导率非铁磁材料缺陷的磁声电检测方法与装置。一种高电导率非铁磁材料缺陷的磁声电检测装置，包括有：数据采集系统，所述数据采集系统用于采集高电导率非铁磁材料被检测的缺陷电压数据。本发明通过研究高电导率非铁磁材料磁声电缺陷无损检测的声场和电磁场，将声场和电磁场的计算公式进行模拟计算，并且建立其数学模型，从而获得磁声电缺陷检测的缺陷信号。

金器艺术品年代检测技术 957     

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本发明涉及金器生产年代检测技术，其特征在于，包括信号发生装置、信号发射装置、信号接收装置、信号感应装置、金器生产年代数据库；金器生产年代检测的技术优势:1.无需目视金器(不需要接触和目视金器,可以放在盒子里面检测)，2.远程,无损检测(不需要在金器上取样,可以远距离检测艺术品)；3.检测结果精准(检测结果与实际生产年代匹配)；4.检测时间短(完成一件金器年代检测只需要几分钟)，比传统的C‑14检测和热释光检测更简便,更精准；5.检测金器范围广(能检测各种类型的金器：黄金首饰、黄金制品、黄金挂件、黄金钱币、黄金佛像、鎏金错金制品等，能检测各个朝代：商代、周朝、秦汉、唐宋、元明清、现代的金器）。

陶瓷艺术品年代检测技术 912     

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本发明涉及陶瓷艺术品生产年代检测技术，其特征在于，包括信号发生装置、信号发射装置、信号接收装置、信号感应装置、陶瓷艺术品生产年代数据库。陶瓷艺术品生产年代检测的技术优势：1.无需目视陶瓷艺术品；2.远程,无损检测(不需要在瓷器艺术品上取样,可以远距离检测)；3.检测范围广(可以检测各个朝代和各类陶瓷艺术品)；4.检测结果精准(检测结果与实际生产年代匹配)；5.检测时间短(完成一件陶瓷艺术品年代检测只需要几分钟)，比传统的C‑14检测和热释光检测更简便,更精准。

银器艺术品年代检测技术 815     

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本发明涉及银器生产年代检测技术，其特征在于，包括信号发生装置、信号发射装置、信号接收装置、信号感应装置、银器生产年代数据库；银器生产年代检测的技术优势:1.无需目视银器(不需要接触和目视银器,可以放在盒子里面检测)，2.远程,无损检测(不需要在银器上取样,可以远距离检测银器)；3.检测结果精准(检测结果与实际生产年代匹配)；4.检测时间短(完成一件银器年代检测只需要几分钟)，比传统的C‑14检测和热释光检测更简便,更精准；5.检测银器范围广(能检测各种类型的银器：银首饰、银制品、银挂件、银钱币、银佛像、鎏银错银制品等，能检测各个朝代：商代、周朝、秦汉、唐宋、元明清、现代的银器）。

LED光源无损实时芯片可辩测量装置 984     

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本实用新型涉及LED光源无损测量技术领域，具体地说，涉及LED光源无损实时芯片可辩测量装置，包括测量箱，测量箱左侧面中心位置开设有卡槽，测量箱左端处的两侧边上均开设有与卡槽连通的第一螺纹孔，第一螺纹孔中均设有拧把，拧把末端设有夹板，测量箱右端面上安装有显示台，梯型滑槽上方设有滑动台，滑动台顶部设有检测台，第二螺纹孔中设有螺纹杆，测量箱上方铰接有翻盖；该LED光源无损实时芯片可辩测量装置，测量箱在翻盖的配合下，便于对内部的进行保护，拧把与夹板的配合，便于紧密夹持不同大小的LED光源芯片，滑动台与检测台的配合，便于对LED光源芯片的光照强度与温度进行对应的测量，在配合显示台，实时对测量的结果进行记录显示。