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白光共聚焦光学轮廓仪

白光共聚焦光学轮廓仪

427
规格/型号:Zeta-388
品牌:优尼康
应用领域:检测设备
产地:广东 - 东莞
厂家/供应商:优尼康科技有限公司
咨询电话::400-616-7676转1554(请说明信息源自“中冶有色网”)
更新时间:2025-07-13
级别:待认证

白光共聚焦光学轮廓仪说明介绍

Zeta-388 白光共聚焦光学轮廓仪

Zeta-388 白光共聚焦光学轮廓仪


简介

KLA Zeta-388光学轮廓仪是非接触式三维表面形貌测量系统。该系统在Zeta-300光学轮廓仪的基础上,增加了用于全自动测量的机械手臂操作系统。Zeta-388光学轮廓仪采用ZDot技术和多模组光学系统,可测量各种不同的样品:包括透明与不透明、低至高反射率、光滑到粗糙的表面,以及亚纳米级到毫米级的台阶高度。KLA Zeta-388光学轮廓仪支持OCR和SECS/GEM,从而可用于全自动产线的生产制造。

KLA Zeta-388 光学轮廓仪产品介绍:

KLA Zeta-388光学轮廓仪是非接触式三维表面形貌测量系统。该系统在Zeta-300光学轮廓仪的基础上,增加了用于全自动测量的机械手臂操作系统。Zeta-388光学轮廓仪采用ZDot技术和多模组光学系统,可测量各种不同的样品:包括透明与不透明、低至高反射率、光滑到粗糙的表面,以及亚纳米级到毫米级的台阶高度。KLA Zeta-388光学轮廓仪支持OCR和SECS/GEM,从而可用于全自动产线的生产制造。

KLA Zeta-388 光学轮廓仪产品特点:

快速的非接触式三维光学轮廓仪

多模组光学系统提供3D扫描、差分干涉、薄膜厚度和自动缺陷检测

全自动测量

同时提取样品表面的真彩色信息和形貌信息

支持100至200mm的晶圆

支持OCR和SECS/GEM,适用于自动化产线的生产环境

用户界面简洁直观

KLA Zeta-388 光学轮廓仪主要应用:

从纳米级到毫米级的台阶高度,可用于高深宽比台阶测量

从亚纳米级至亚毫米级的表面粗糙度分析,适用于光滑表面和粗糙表面

Z向高分辨率的白光干涉测量,可用于广域台阶高度测量

移相扫描干涉技术可快速测量小于250nm的台阶高度

薄膜应力和样品翘曲测量

测量30nm到100μm透明薄膜的厚度,可提供薄膜均匀性数据和薄膜厚度分布图

自动缺陷检测,可识别横向尺寸大于1μm的缺陷

KLA Zeta-388 光学轮廓仪产品测量原理:

KLA Zeta-388 光学轮廓仪‌的原理‌是通过共聚焦原理实现样品的高分辨率、高对比度的光学切片能力。它结合了传统光学显微镜和激光共聚焦显微镜的特点,利用宽谱白光作为光源,通过空间滤波机制消除离焦光干扰,从而获得高精度的三维图像

KLA Zeta-388 光学轮廓仪其他应用:

图形化蓝宝石衬底

VCSEL元件

纳米级台阶高度

激光切割

晶圆级封装

其他应用
         
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