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白光共聚焦显微镜

白光共聚焦显微镜

330
规格/型号:Zeta-20
品牌:优尼康
应用领域:检测设备
产地:广东 - 东莞
厂家/供应商:优尼康科技有限公司
咨询电话::400-616-7676转1554(请说明信息源自“中冶有色网”)
更新时间:2025-07-13
级别:待认证

白光共聚焦显微镜说明介绍

Zeta-20 白光共聚焦显微镜

Zeta-20 白光共聚焦显微镜


简介

KLA Zeta-20白光共聚焦显微镜基于ZDot技术而来。Zeta-20 白光共聚焦显微镜可以对大部分材料和结构进行成像分析,从光滑到高粗糙度、低反射率到高反射率表面、透明到不透明介质。KLA Zeta-20白光共聚焦显微镜使用模块化设计理念,为用户提供了一系列的硬件和软件选项来满足各种不同的测量需求,所有硬件安装和操作都简单易用。

KLA Zeta-20 白光共聚焦显微镜产品介绍:

KLA Zeta-20白光共聚焦显微镜基于ZDot技术而来。Zeta-20 白光共聚焦显微镜可以对大部分材料和结构进行成像分析,从光滑到高粗糙度、低反射率到高反射率表面、透明到不透明介质。KLA Zeta-20白光共聚焦显微镜使用模块化设计理念,为用户提供了一系列的硬件和软件选项来满足各种不同的测量需求,所有硬件安装和操作都简单易用。

KLA Zeta-20 白光共聚焦显微镜产品特点:

Zeta-20 白光共聚焦显微镜提供多种光学测试技术,以满足用户各种不同领域的测试需求。

ZDotZ点阵三维成像技术是Zeta所有系列产品的标配技术,Z点阵独特的明暗场照明方案结合不同物镜帮助客户测量“困难”的表面。

ZIC干涉反衬成像技术,实现纳米级粗糙度表面的成像及分析。

ZSI白光差分干涉技术,垂直方向分辨率可达埃级。

ZI 白光干涉技术,大视场下纳米级高度的理想测量技术。       

ZFT反射光谱膜厚分析技术,集成宽频反射光谱分析仪,可测量ULA+ 2et-20薄膜材料的厚度、折射率和反射率。

KLA Zeta-20 白光共聚焦显微镜产品优势:

重复性和再现性

接触式测量,适用于多种材料

测量软材料的微力控制

梯形失真校正可大幅度减少侧视图造成的失真

弧形校正补偿探针的弧形运动

KLA Zeta-20 白光共聚焦显微镜产品测量原理:

KLA Zeta-20 白光共聚焦显微镜的原理是通过共聚焦原理实现样品的高分辨率、高对比度的光学切片能力。它结合了传统光学显微镜和激光共聚焦显微镜的特点,利用宽谱白光作为光源,通过空间滤波机制消除离焦光干扰,从而获得高精度的三维图像。

Zeta-20 白光共聚焦显微镜
         
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