本发明涉及冶金成分测定分析
技术领域：
，特别是涉及一种测定氧化钼中钼含量的x荧光熔片制备及分析方法。
背景技术：
：目前，绝大多数钢厂都在使用氧化钼(氧化钼球)替代钼铁在冶金过程中使用，可以降低炼钢成本，减少还原过程使资源和能源节约，但是目前氧化钼球的分析仅有yb/t5039-2012氧化钼钼含量的测定钼酸铅重量法(化学法)，方法原理为试料用过氧化钠熔融，或用硝酸、氢氟酸溶解后残渣回收，使钼转化为可溶性钼酸盐，经分离干扰元素后，钼与乙酸铅反应生成钼酸铅沉淀，过滤，计算出试料中的钼含量。化学分析方法虽是推荐标准方法，但其分析周期长、步骤多，且需使用大量化学品试剂，难以适应企业生产节奏的加快、高质量产品的研发。采用仪器分析代替化学分析是必然趋势，x射线荧光光谱法分析是目前较准确分析合金、辅料主量元素的较先进方法，虽然压片分析简单快速，但是物相和粒度很难与标样一致，粒度效应、矿物效应、基体干扰严重，熔融法操作相对复杂，但是可以通过熔融使物象统一，消除粒度效应，通过稀释，降低基体影响，使测量的精确度和准确度更好。为保证分析结果的准确性，使用熔融分析，此方法关键为玻璃熔片制备的温度为950～1150℃，但是氧化钼球熔点为790℃，高温会产生升华，导致分析结果不准确。技术实现要素：为了解决以上技术问题，本发明提供一种测定氧化钼中钼含量的x荧光熔片制备方法，包括s1、将氧化钼进行破碎，取样品并研磨，制成日常分析粉末样品；s2、选取日常验收氧化钼生产样，使用yb/t5039-2012氧化钼钼含量的测定钼酸铅重量法(化学法)分析定值，制作内控标样；s3、称取标样，加入混合试剂、抑制剂，搅拌均匀；s4、称取熔剂，再称取脱模剂，搅拌均匀；s5、将混合均匀的样品、混合试剂、抑制剂置于熔融炉，建立一条氧化钼熔融工作曲线，在抑制剂的作用下，低温预熔，然后在高温状态下将熔剂与预熔后的产物熔制成稳定、均一、透明的玻璃片。技术效果：本发明中添加抑制剂，抑制氧化钼(氧化钼球)粉状样熔片过程中产生升华，保证分析准确。样品的分析结果满足相关国家化学分析标准中的精密度要求，可适用于钢铁企业合金的验收、氧化钼(氧化钼球球)厂商的内部质控、出厂检验。本发明进一步限定的技术方案是：前所述的一种测定氧化钼中钼含量的x荧光熔片制备方法，具体步骤为：s1、将块状氧化钼用辊破碎机进行破碎，通过网格法取缩分样品6
声明：
“测定氧化钼中钼含量的X荧光熔片制备及分析方法与流程” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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编辑：中冶有色网
来源：南京钢铁股份有限公司
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2025年05月23日 ~ 25日 
