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用于半导体缺陷检测的系统

832   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:10
为克服现有半导体样品缺陷检测系统检测效率低、精确度差以及有损的问题,本发明提供了一种用于半导体缺陷检测的系统,包括第一光源,用于使半导体样品产生散射光,第二光源,用于使半导体样品产生第一反射光,第三光源,用于使半导体样品产生第二反射光和光致发光;光致发光检测组件,用于检测半导体样品上单个发光单元的荧光光谱以及荧光图像;散射光检测组件,用于检测散射光的图像;反射光检测组件,用于检测第一反射光和第二反射光的图像。本发明提供的检测系统能够同时、快速、无损的进行半导体外表面缺陷、次表面缺陷以及器件缺陷检测,检测准确度高,适用Mini LED、Micro LED的缺陷检测和质量分析。
声明:
“用于半导体缺陷检测的系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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无损检测
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