为克服现有半导体样品缺陷检测系统检测效率低、精确度差以及有损的问题,本发明提供了一种用于半导体缺陷检测的系统,包括第一光源,用于使半导体样品产生散射光,第二光源,用于使半导体样品产生第一反射光,第三光源,用于使半导体样品产生第二反射光和光致发光;光致发光检测组件,用于检测半导体样品上单个发光单元的荧光光谱以及荧光图像;散射光检测组件,用于检测散射光的图像;反射光检测组件,用于检测第一反射光和第二反射光的图像。本发明提供的检测系统能够同时、快速、无损的进行半导体外表面缺陷、次表面缺陷以及器件缺陷检测,检测准确度高,适用Mini LED、Micro LED的缺陷检测和质量分析。
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