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双层双D型线圈及基于线圈的缺陷方向检测方法和装置

800   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:08
本发明公开了一种双层双D型线圈及基于线圈的金属构件缺陷方向检测方法和装置,线圈包括互相平行的上层线圈和下层线圈,上层线圈和下层线圈的形状都为双D型;上层线圈和下层线圈的最外层半径、线圈匝数和线间距均相等,两个线圈所在平面之间的距离即上下两层线圈之间的距离。检测装置包括激励信号发生模块、双层双D型线圈探头、被测试件、信号放大滤波模块、数据采集和处理模块和缺陷方向定量检测模块。本发明提出了一种双层双D型线圈结构,并基于该结构提出一种金属构件中缺陷方向的定量检测方法与装置,可实现对金属构件中缺陷方向的定量无损检测,为实现缺陷深度和宽度的定量无损检测奠定基础,提高脉冲涡流定量检测金属构件缺陷的精度。
声明:
“双层双D型线圈及基于线圈的缺陷方向检测方法和装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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