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晶圆检测装置及检测方法

1049   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:06
本发明提供一种晶圆检测装置及检测方法,所述检测装置包括脉冲激光器、第一分束器、第二分束器、光学延迟线、光电探测器、可编程延迟电路、控制器、调束光路、空间光调制器、非线性晶体、固定夹具、聚焦光路和太赫兹探测器。本发明不设机械扫描装置,待测晶圆无需进行移动扫描,同时利用电控的空间光调制器进行哈达玛矩阵的切换,可提高切换速度,并有效提高晶圆无损检测的速度和精度。
声明:
“晶圆检测装置及检测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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无损检测
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