本发明属于材料检测技术领域,提供了一种用于晶体材料的晶型与缺陷的检测装置,包括:工作面,其上设有工作台,用于放置待检测的晶体;外罩,呈倒置的U型,其扣盖在所述工作面上并与其形成密闭的空腔;光源,设置于所述密闭的空腔内,用于直射在所述晶体上;图像采集器,设置于所述外罩外部顶端且位于所述晶体的上方;和图像处理设备,设置于所述密闭的空腔外且与所述图像采集器相连接。本申请相比于常用的高分辨透射电镜法、光吸收法和Raman光谱法三种鉴别晶体多型的方法,具有对样品无损检测的优点,也不需要特殊处理,快速判断,且检测装置成本大大降低,在一定的精度要求下,能达到最佳性价比。
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