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短波长特征X射线内部残余应力无损测试方法

856   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:57:59
本发明公开了一种短波长特征X射线内部残余应力无损测试方法,X射线源和探测器分布在样品的两侧,光路为透射式,在测量时,通过转动欧拉环以改变Ψ角,测试不同Ψ角下的衍射角2θ,通过拟合衍射角2θ‑sin2Ψ值计算得到测试样品内部的残余应力,测试时试样转动平面与探测器转动平面相互垂直。
声明:
“短波长特征X射线内部残余应力无损测试方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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