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LED芯片的无损测试方法

1131   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:57:59
一种LED芯片的无损测试方法,包括以下步骤:(1)制备电极导电膜,该电极导电膜包括透明绝缘基底及设置在基底上的透明导电槽;(2)将需要测试的LED芯片表面覆盖上电极导电膜,使LED芯片的正负电极位于对应的透明导电槽内;(3)将自动测试机的两个探针扎到电极导电膜上接触正负电极位置区域;(4)测试完毕之后将电极导电膜去除。该测试方法利用测试探针与LED芯片电极间接接触代替直接接触,在芯片电极表面覆盖一层电极导电膜作为保护,解决了LED芯片测试中的针痕问题,实现无损伤测试,对电极进行保护,同时该方法操作简单、增加了测试针的使用频次,降低测试成本。
声明:
“LED芯片的无损测试方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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