一种无损测量行波管热阻构成的方法及装置,涉及微波真空电子器件检测技术领域。所述装置包括:热阻测试仪、测试探头和被测行波管。所述方法包括:将测试探头放入被测行波管的螺旋线内,测试二极管在工作电源提供的电压与电流下工作时产生的热量经传热触头传递到螺旋线,并经陶瓷夹持杆、管壳散热到周围环境,采集卡采集到加热过程中测试二极管的电学温敏参数的变化,并经计算得到被测行波管的散热通道的热阻构成。本发明实现了非破坏性地测量行波管的热阻构成并定点研究其散热情况,检测散热能力,测量无损伤、周期短、精度高、成本低,较现有技术有着明显的突破性。
声明:
“无损测量行波管热阻的方法及装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)