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高精度中子无损检测装置

924   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:57:56
本发明公开了一种高精度中子无损检测装置,包括中子发射源、底座、屏蔽盖、中子成像探测器,底座上侧面为样品放置区,底座中间设有安装中子发射源的腔体,所述的腔体贯穿底座的上侧设置,所述的屏蔽盖设在底座上侧,屏蔽盖可在上下方向进行位置的调节,所述的中子成像探测器设置在屏蔽盖的上侧;所述的屏蔽盖为上小下大的锥形管体结构,还包括屏蔽管,所述的屏蔽管竖直设置在屏蔽盖内,屏蔽管的上端与屏蔽盖的上端开口处连接,屏蔽管为可上下伸缩设置,所述的屏蔽盖的内侧壁上设有反射调节板,反射调节板的下端与屏蔽盖铰接连接,屏蔽盖上设有螺纹孔,所述的螺纹孔上连接有调节螺杆,所述的调节螺杆与反射调节板的上端连接。
声明:
“高精度中子无损检测装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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