合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 无损检测技术

> 基于Welch法谱估计的超薄涂层厚度均匀性无损检测方法

基于Welch法谱估计的超薄涂层厚度均匀性无损检测方法

806   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:57:55
本文提出一种基于Welch法谱估计的超薄涂层厚度均匀性无损检测方法。该方法利用超声显微镜系统进行全波采集,对于每一个扫查点获取的涂层上表面反射回波以及涂层下表面n次反射回波所混叠的超声A扫信号,利用聚焦探头的脉冲持续时间去除A扫信号中的涂层上表面回波信号,得到涂层下表面n次反射回波的信号,声束反射透射传播原理如附图所示。然后对n次反射回波信号进行Welch法谱估计,在Welch功率谱上读取各个极大值对应的频率,结合涂层的声速计算得到涂层的厚度,并将厚度值转换成对应的颜色来表征。最后依次计算得到各扫描点的厚度值,并用对应颜色表示,便可形成用于涂层厚度均匀性的评估C扫描成像图。该方法简单实用,测量速度快,适用于涂层的现场测量。
声明:
“基于Welch法谱估计的超薄涂层厚度均匀性无损检测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
无损检测
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记