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紫外线测量方法、计算设备及存储介质

741   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 07:25:58
本申请适用于测量技术领域,提供一种紫外线测量方法、计算设备及存储介质,所述方法包括:测量水溶液中的化学曝光剂受紫外线照射之前的第一吸光度;在紫外发光二极管的发光面朝向所述水溶液时,控制所述紫外发光二极管发出紫外线照射所述水溶液;测量所述化学曝光剂受所述紫外发光二极管发出的紫外线照射之后的第二吸光度;根据所述第一吸光度和所述第二吸光度,获取所述紫外发光二极管的紫外线输出量。本申请的实施例能利用化学曝光剂测量紫外发光二极管的紫外线输出量,无需进行上级朔源。
声明:
“紫外线测量方法、计算设备及存储介质” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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