合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 化学分析技术

> 基于强化学习的X射线头影测量标志点自动定位方法

基于强化学习的X射线头影测量标志点自动定位方法

895   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 06:47:33
本发明公开一种基于强化学习的X射线头影测量标志点自动定位方法,包括以下:获取若干训练用的正畸科X线头颅侧位片图像数据,人工标注出多个标志点的位置,并预处理后确定每一个标志点的最终位置;建立马尔科夫决策过程模型,基于深度强化学习定位算法,求解马尔科夫决策过程,得到最优策略;S3)输入一张X线头颅侧位片,得到每个标志点的估算值,在图中标出目标点和经过模型预测的标志点位置,同目标点相比较得出平均误差和方差。本发明采用深度强化学习的方法,将头影标志点定位问题表示为强化学习中的顺序决策问题;能够针对不同的标志点,分配不同的强化学习代理,同时探索各自的标志点,从而解决头影标志点定位的耗时和准确性问题。
声明:
“基于强化学习的X射线头影测量标志点自动定位方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
化学分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记