合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 物理检测技术

> 半导体器件失效分析方法、装置、设备及存储介质

半导体器件失效分析方法、装置、设备及存储介质

818   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 06:25:53
本发明实施例提供的半导体器件失效分析方法、装置、设备及存储介质,通过物理检测获取正常半导体器件的目标检测参数,目标检测参数包括正常半导体器件对应失效半导体器件上的失效点区域的检测参数,其包括失效点区域的表面检测参数、失效点区域的元素浓度检测参数、失效点区域的剖面检测参数;然后将获取到的目标检测参数作为预设仿真算法的输入参数输入,通过预设仿真算法结合预测失效结果,从而得到失效半导体器件的失效原因。也即本发明实施例实现了对失效半导体器件失效原因的逆向分析,以真实的失效半导体器件作为直接的分析对象,分析结果为全面、准确。
声明:
“半导体器件失效分析方法、装置、设备及存储介质” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
物理检测
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记