权利要求书： 1.一种新型涂层测厚仪探头，其特征在于，包括测厚仪本体（1）和通过连接头（2）与测厚仪本体（1）连接的探头（4），所述探头（4）外设置有用于保护探头（4）头部的保护机构（3）；所述保护机构（3）包括螺纹连接于探头（4）外的固定罩（31）和滑动设置于固定罩（31）内的活动罩（32），所述活动罩（32）外壁左右两侧通过螺纹连接有滑杆（33），所述活动罩（32）外壁开设有内螺纹槽，所述滑杆（33）靠近活动罩（32）的一端开设有与内螺纹槽旋合的外螺纹，所述固定罩（31）左右两侧开设有与滑杆（33）配合的滑槽，所述滑槽内设置有与滑杆（33）连接的复位弹簧（34）。2.根据权利要求1所述的一种新型涂层测厚仪探头，其特征在于，所述活动罩（32）顶部左右两侧的底端分别设置有凸块（35），所述固定罩（31）顶部开设有与凸块（35）配合的凹槽。3.根据权利要求1所述的一种新型涂层测厚仪探头，其特征在于，所述活动罩（32）顶部底端设置为斜角，所述滑杆（33）远离活动罩（32）的一端设置有防滑连块。 说明书： 一种新型涂层测厚仪探头技术领域[0001] 本实用新型涉及测厚仪技术领域，尤其涉及一种新型涂层测厚仪探头。背景技术[0002] 涂层测厚仪可无损地测量磁性金属基体上非磁性涂层的厚度及非磁性金属基体上非导电覆层的厚度。涂镀层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域，而涂层测厚仪探头则是其最为重要的部件，影响到测量效率及测量精度。根据测量原理，涂层测厚仪探头一般分为磁性测厚探头、涡流测厚探头、超声测厚探头。而应用最为广泛的则是磁性测厚探头和涡流测厚探头。[0003] 现有技术中涂层测厚仪探头，没有对探头设置保护机构，会发生探头掉落，进而损坏探头的情况。实用新型内容[0004] 本实用新型的目的是为了解决现有技术的不足，而提出的一种新型涂层测厚仪探头。[0005] 为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：[0006] 一种新型涂层测厚仪探头，包括测厚仪本体和通过连接头与测厚仪本体连接的探头，所述探头外设置有用于保护探头头部的保护机构；[0007] 所述保护机构包
声明：
“新型涂层测厚仪探头” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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编辑：管理员
来源：南京拉思德新材料科技有限公司
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2025年05月23日 ~ 25日 
