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光学膜厚测量仪

光学膜厚测量仪

219
规格/型号:Filmetrics
品牌:优尼康
应用领域:检测设备
产地:广东 - 东莞
厂家/供应商:优尼康科技有限公司
咨询电话::400-616-7676转1554(请说明信息源自“中冶有色网”)
更新时间:2025-07-13
级别:待认证

光学膜厚测量仪说明介绍

Filmetrics 光学膜厚测量仪

Filmetrics 光学膜厚测量仪


简介

美国Filmetrics公司的F60-C光学膜厚测量仪采用r-θ极坐标移动平台,能快速准确地测量各种晶圆尺寸上的薄膜厚度和光学常数n&k,适用于多种材料如氧化硅、氮化硅等。该设备支持自定义测试点,并能在短时间内完成大面积分布图测量,提供便捷的在线演示与技术支持服务。

美国Filmetrics 光学膜厚测量仪 F60-C膜厚测量仪

自动化薄膜厚度分布图案系统

F60-c 光学膜厚测量仪先进的薄膜光谱反射系统,可以很简单快速地获得薄膜的厚度及 n&k, 采用 r-θ 极坐标移动平台,可以在几秒钟的时间内快速的定位所需测试的点并测试厚度, 可随意选择一种或极坐标形、 或方形、或线性的图形模式,也可以编辑自己需要的测试点。 针对不同的晶圆尺寸,盒对盒系统可以很容易的自动转换,匹配当前盒子的尺寸。 49点的分布图测量只需耗时约 45秒。

可测样品膜层

基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系数的薄膜都可以测量。例如

氧化硅 氮化硅 类金刚石 DLC

光刻胶 聚合物 聚亚酰胺

多晶硅 非晶硅 硅

Filmetrics 光学膜厚测量仪
         
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