工作原理
仪器通过微型X射线管发射高能X射线,激发被测样品中的原子内层电子跃迁,释放出特征X射线荧光。高分辨率硅漂移探测器(SDD)捕获这些荧光信号后,结合多变量算法与标准谱库比对,实现多元素同步定量分析。其核心优势在于无需复杂前处理,直接对固体或粉末样品进行无损检测,且检测结果不受样品形态影响。
应用范围
航空航天:检测铍铜合金轴承、弹簧等部件的元素配比,确保材料性能符合高强度、耐腐蚀要求。
电子电气:验证连接器、接插件中铍铜合金的导电性与弹性,保障产品可靠性。
精密制造:监控模具材料成分,避免因元素偏析导致的加工缺陷。
废旧金属回收:快速分类含铍铜合金废料,提升回收价值与效率。
产品技术参数
X射线源:微型铍窗X射线管,电压50kV,电流100μA,阳极靶材可选Ag/Rh。
探测器:高分辨率SDD,能量分辨率<145eV,计数率>200,000cps。
测量范围:Be(0.01%-5%)、Cu(50%-99.9%),其他元素检测下限至0.01%。
尺寸与重量:280mm×220mm×80mm,主机净重1.8kg,单手可握持。
环境适应性:IP54防护等级,工作温度-10℃至50℃,适应工业现场复杂环境。
数据库:内置ASTM、GB等标准铍铜合金牌号库,支持自定义牌号添加。
产品特点
便携性与耐用性:全金属机身设计,抗跌落1.2米,配备防震支架,适合野外或生产线使用。
检测速度:3秒快速筛查模式,60秒精准定量模式,兼顾效率与精度。
智能软件:搭载MetalXpert分析系统,支持自动校准、光谱拟合及报告生成,操作门槛低。
安全防护:三级辐射屏蔽设计,表面辐射剂量<0.2mRad/h,通过CE、RoHS认证。
多模式扩展:可选配真空腔体,提升轻元素(如Be)检测灵敏度,扩展应用场景。