工作原理:
基于机械接触式测量技术:将待测样品置于下测量面,上测量面以恒定压力(如薄膜测量压力为17.5±1kPa)垂直下压,与样品表面接触后,同测量头一体的位移传感器实时检测上下测量面间距,通过算法将位移数据转换为厚度值。
应用范围:
涵盖塑料薄膜(如BOPP、PET)、金属箔片(铝箔、铜箔)、纸张(卡纸、复合纸板)、纺织材料(无纺布、医用口罩)及电子绝缘材料等领域。
产品技术参数:
C640提供两种型号:C640M标配测量范围0-2mm,分辨率0.1μm,重复性0.8μm;C640H型号重复性提升至0.4μm,满足更高精度需求。用户可选配扩展测量范围至0-6mm或0-12mm,测量间距0-1000mm可调,进样速度1.5-80mm/s可设定。
产品特点:
采用超高精度位移传感器,重复性优于行业同类设备;支持薄膜与纸张双模式测量压力切换(薄膜17.5kPa/纸张100kPa),适配不同材质特性;智能控制软件具备多点标定功能,优化线性度;符合ISO 4593、ASTM D6988、GB/T 6672等国际标准,满足医药包装GMP认证需求。