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监控和调整电路性能的方法

770   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:01:43
一种测试在电子系统中实现的集成电路的方法。所述方法包括使在工作系统(例如,在计算机系统)中实现的集成电路(或其一部分)进入离线状态。设置集成系统的电参数(例如,电压,时钟频率等),并进行内置自测试(BIST)。记录在BIST期间的任何失效。随后对电参数的多个预定值中的每个值重复所述测试,记录发生的任何失效。一旦完成了测试,就确定每个预定值的失效率和合格范围。
声明:
“监控和调整电路性能的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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