本实用新型公开了一种微波器件动态老化试验系统,它包括老化试验板(6),微波信号源(2)与程控电源(4)通过背板连接器(7)与老化试验板(6)输入端连接,老化试验板(6)输出端通过背板连接器(7)与微波信号分析仪(3)连接;解决了现有技术的微波器件老化试验采用直流偏置的方式进行,由于这是一种静态老化方式,存在的器件实际工作状态与试验状态相差甚远,达不到剔除早期失效器件等技术问题。
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