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微波器件动态老化试验系统

862   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:01:24
本实用新型公开了一种微波器件动态老化试验系统,它包括老化试验板(6),微波信号源(2)与程控电源(4)通过背板连接器(7)与老化试验板(6)输入端连接,老化试验板(6)输出端通过背板连接器(7)与微波信号分析仪(3)连接;解决了现有技术的微波器件老化试验采用直流偏置的方式进行,由于这是一种静态老化方式,存在的器件实际工作状态与试验状态相差甚远,达不到剔除早期失效器件等技术问题。
声明:
“微波器件动态老化试验系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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