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防止探针卡烧针的方法

773   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:37
本发明公开了一种防止探针卡烧针的方法,在对样品进行失效分析的测试过程中,进行如下步骤:第1步,对样品进行开短路测量;第2步,进行电源短路预测量,判断电源短路预测量的失效情况;第3步,进行电源短路测量,并判断电源短路测量的失效情况;第4步,进行上电功能测试。本发明所述的防止探针卡烧针的方法,在常规的失效分析方法中,增加电源短路预测量以及电源短路测量步骤,将有短路特征的芯片首先筛选出来,后续测试避开这些短路的芯片,能有效防止探针卡烧针。
声明:
“防止探针卡烧针的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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