本发明涉及一种超薄平面透射电镜样品的制备方法。包括以下步骤:提供具有待观测的失效分析点的
芯片;对芯片进行截取得到TEM样品;在TEM样品上靠近失效分析点处形成停止标记,并研磨TEM样品的横截面至停止标记;在TEM样品横截面的失效分析点上镀Pt保护层;在第二薄膜层上靠近失效分析点处挖凹坑,并减薄第二薄膜层;将TEM样品放置在沸腾的胆碱配比溶液中反应;采用聚焦离子束对TEM样品进行切断,得到目标层样品。本发明的一种超薄平面透射电镜样品的制备方法,既可以准确定位样品,又可以得到厚度在十几个纳米的TEM目标层样品,避免了平面透射电镜受到前层
多晶硅或者后层多晶硅对待观察区域的干扰,大大提高了失效分析中判断定位的准确性。
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