本发明揭示了一种基于测试向量乱序和丢弃行为的验证方法,乱序包括调度乱序和流水线乱序,所述验证方法包括:S1,基于测试向量分组法的调度乱序验证过程;S2,基于测试向量特征值的流水线乱序验证过程;S3,基于测试向量特征值的丢弃验证过程。本发明有效地解决了
芯片测试中测试向量乱序和丢弃所引起的记分板比对失效的问题,同时,解决了传统方法中带来的参考模型复杂度高,与DUT过于耦合等问题。
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