本发明公开了一种应用于集成电路的测试探针卡,包括探针座和检测电路板,探针座上成型有探针孔,探针孔内插接有探针,探针包括中部的止挡部,止挡部的上端面检测杆,检测杆的上端露出探针座的上端面,其特征在于:止挡部的下端面成型有竖直的外螺纹套,外螺纹套的内孔内插接有倒置的T型导向杆,T型导向杆上插套有下永磁套,外螺纹套上插套有上永磁套,上永磁套下端面的磁极和下永磁套上端面的磁极相同,T型导向杆内插接固定有导电体,导电体由圆柱形的碳刷头和碳刷柱组成,碳刷头抵靠在外螺纹套的内孔壁上,碳刷柱的下端露出T型导向杆的下端面抵靠在检测电路板上。它结构简单,组装方便,能避免因弹簧机械疲劳失效而造成的接触不良。
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