合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 薄膜封装Test key的制作方法和检测方法

薄膜封装Test key的制作方法和检测方法

1140   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:08
本发明公开了一种薄膜封装Test key的制作方法和检测方法,S1:在玻璃基板上制备TFT驱动器,在制备TFT驱动器时,玻璃基板边缘中的衬底层与TFT驱动器中的SiNx层在同一层,即在制备TFT驱动器时,沉积在玻璃基板边缘的SiNx层形成衬底层,再在TFT驱动器制备像素定义层,像素定义层经过曝光显影蚀刻脱膜形成图案,然后再在像素定义层的开口处溅射一层阳极;S2:在步骤S1的基础上制备OLED发光器件,然后再在OLED发光器件上制备阴极,其中阴极包含Mg阴极和Ag阴极;S3:在步骤S2的基础之上沉积薄膜封装层。本发明可以高效和快速地检测出薄膜封装的OLED显示器是否失效,以及水氧侵蚀的程度,为后续维修和使用提供一个方向,并且在器件的开发方面具有重要意义。
声明:
“薄膜封装Test key的制作方法和检测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

2024退役新能源器件循环利用技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记