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MMC子模块电容老化检测方法

833   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:02
本发明涉及一种MMC子模块电容老化检测方法,包括:1)采集子模块的开关状态;2)在待测模块和参考模块状态相同时,采集待测模块和参考模块电容初始电压,并将待测模块和参考模块同时接入系统;3)等待控制信号变化,采集待测模块和参考模块电容电压波形;4)将采集的待测模块和参考模块电容电压波形进行多层小波包分解,并计算小波包分解后高频能量比值KR;5)采集待测模块和参考模块的电容电压,并计算电容电压变化比值KC;6)判断KC≤0.95或KR≥2是否成立,是则判断待测模块电容老化失效,切除待测模块,系统接入冗余模块,否则判断待测模块电容未老化失效,排序模块电压,并进行下一模块检测。该方法有利于电容老化检测的可靠性和便捷性。
声明:
“MMC子模块电容老化检测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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