本实用新型涉及一种直接测定样品中痕量铝、硅、磷、硫、氯元素含量的分析装置,该装置包括X射线荧光分析仪单元(200)、充气单元(100)、样品杯(300)以及控制单元;X射线荧光分析仪单元(200)包括能够进行气体填充的样品测试腔(203);充气单元(100)能够可控制地向样品测试腔(203)内进行充气、排气;控制单元,对该分析装置进行控制,并将采集到的数据进行积分、统计、绘制工作曲线、标定等处理,一次性得到被测样品中铝、硅、磷、硫、氯每个元素的含量。本实用新型的优点在于样品无需前处理,适用于固体和液体样品,具有无损、直接、快速、灵敏度高、使用成本低、便于现场测量等特点。
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“直接测定样品中痕量铝、硅、磷、硫、氯含量的分析装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
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