本实用新型公开了一种微波器件测试用扭环,涉及半导体器件测试技术领域。扭环外环壁的横截面为圆形,扭环内环壁的横截面为六边形,且与微波器件测试夹具输入、输出的同轴接头端子外形尺寸相适配,所述扭环的材质为聚四氟乙烯材料。本实用新型采用了带有网纹结构的聚四氟乙烯扭环,成功解决了测试夹具在测试过程中存在的连接不紧密的问题,保证器件测试稳定性、准确性及无损性,其制作成本低,易实现,保证了相关科研生产顺利进行。
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