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微波器件测试用扭环

765   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:33
本实用新型公开了一种微波器件测试用扭环,涉及半导体器件测试技术领域。扭环外环壁的横截面为圆形,扭环内环壁的横截面为六边形,且与微波器件测试夹具输入、输出的同轴接头端子外形尺寸相适配,所述扭环的材质为聚四氟乙烯材料。本实用新型采用了带有网纹结构的聚四氟乙烯扭环,成功解决了测试夹具在测试过程中存在的连接不紧密的问题,保证器件测试稳定性、准确性及无损性,其制作成本低,易实现,保证了相关科研生产顺利进行。
声明:
“微波器件测试用扭环” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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