合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 无损检测技术

> 用于芯片检测的双点激光显微检测装置

用于芯片检测的双点激光显微检测装置

810   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:06
本实用新型公开了一种用于芯片检测的双点激光显微检测装置,属于光学工程/无损检测领域。包括双路激光模组、转接环、光学合路单元、红外CCD、照明光源、显微镜、可调节支架、样品台、旋转台、X‑Y位移台和基座等。双路激光模组由两台激光器组合而成,激光模组通过转接环与光学合路单元链接并固定,模组中的两路激光通过光学合路单元的整形、偏转和合束后进入显微镜;显微镜和光学合路单元通过可调节固定支架组合,红外CCD和照明光源分别与光学合路单元、显微镜连接,以提供所述装置的显微成像和照明功能;该实用新型通过实现双路激光的整形、偏转和调节,可进行芯片等微结构微器件的快速扫描、精确检测。
声明:
“用于芯片检测的双点激光显微检测装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
无损检测
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记