本发明公开了一种基板检测设备及其检测方法,所述检测方法包括:获取基板的位置;检测并获取残留物信息;以及根据所述残留物信息,判断所述位置的清洁度,并反馈结果。本发明通过光学显微镜进行定位后,启动光阻检测装置对所需位置进行光阻残留检测,可以实现检测完就反馈,简单高效,同时利用机械臂移动检测装置到待检测的位置,相比于传统的方式,大尺寸面板可以不用切片就可执行无损检测的操作,兼顾了耗材利用率与测量效率。
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