一种半导体激光器无损波长分类筛选方法,通过电致发光初检及工艺片整片扫描光荧光谱复检的方法,可有效筛选不同波长范围的半导体激光器外延片,适用范围广。本发明可在前道工艺完成整片激光工艺片波长筛选分类,定位精准,数据全面,速度快,大大提高后道工艺工作效率。同时本发明避免了对激光器工艺片的结构破坏,提高了外延片利用率,节约大量成本。
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