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半导体激光器无损波长分类筛选方法

696   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:03
一种半导体激光器无损波长分类筛选方法,通过电致发光初检及工艺片整片扫描光荧光谱复检的方法,可有效筛选不同波长范围的半导体激光器外延片,适用范围广。本发明可在前道工艺完成整片激光工艺片波长筛选分类,定位精准,数据全面,速度快,大大提高后道工艺工作效率。同时本发明避免了对激光器工艺片的结构破坏,提高了外延片利用率,节约大量成本。
声明:
“半导体激光器无损波长分类筛选方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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