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用于无损测定绝缘涂层的方法和装置

565   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:00
提供了一种用于为布置在物体(12)中的基底(16)上的绝缘涂层(14)确定厚度和热导率的装置(10)。该装置包括用于对物体(12)的表面快速施加多个光脉冲(24)的光源(20),其中该表面包括绝缘涂层(14)。该系统还包括记录系统(28),该记录系统(28)被配置成收集表示多个光脉冲在物体(12)中的传播的数据(36)。该装置还包括处理器(34),该处理器(34)被耦合到记录系统(28),并且被配置成接收来自记录系统(28)的数据(36),以及被配置成确定绝缘涂层(14)的厚度值和热导率值。
声明:
“用于无损测定绝缘涂层的方法和装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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