本实用新型设计了一种无损测量导电薄膜方块电阻的装置,选用同轴电缆接头,将
铝合金材料加工成一个圆环状工件,圆环状工件内径大于同轴电缆接头的外径,并且在圆环状工件外侧车削加工出螺纹,将其固定进同轴电缆接头内部,使他们具有轴对称性,并保证圆环状工件底面与探头轴的底面在同一平面内。在圆环状工件和同轴电缆接头的截面粘贴等面积弹性导电橡胶。本实用新型装置实现了导电薄膜材料方块电阻的快速、无损、高灵敏度便捷测量。
声明:
“无损测量导电薄膜方块电阻的装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)