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银或金纳米粒子膜拉曼芯片定标无损质检方法与设备

947   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:57:56
一种银或金纳米粒子膜拉曼芯片定标无损质检方法与设备,所述拉曼芯片在紫外可见平行光束中检测消光(Extinction)吸收光谱SPR主峰高度HSPR,采用HSPR~HRs定标方法,用定标样品的拉曼光谱中定标峰的高度HRS间接表征所述拉曼芯片的灵敏度质量;HSPR~HRS定标曲线,需检测至少5种不同灵敏度的HSPR值之后,相继检测定标样品如R6g‑10‑6M/L的拉曼光谱中的定标峰高HRS,创建HSPR~HRS定标曲线,根据所述拉曼芯片质检达标规范制定质控限,实施所述拉曼芯片定标无损质检。无损质检过程中,为防止拉曼芯片在空气中氧化损伤,需设置在硝酸银溶液环境中完成,或真空环境中、或惰性气体中完成。
声明:
“银或金纳米粒子膜拉曼芯片定标无损质检方法与设备” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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