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银或金纳米粒子膜拉曼芯片定标无损质检方法与设备

1000   编辑：管理员   来源：中冶有色技术网  
2023-03-19 08:57:56
一种银或金纳米粒子膜拉曼芯片定标无损质检方法与设备，所述拉曼芯片在紫外可见平行光束中检测消光(Extinction)吸收光谱SPR主峰高度HSPR，采用HSPR～HRs定标方法，用定标样品的拉曼光谱中定标峰的高度HRS间接表征所述拉曼芯片的灵敏度质量；HSPR～HRS定标曲线，需检测至少5种不同灵敏度的HSPR值之后，相继检测定标样品如R6g‑10‑6M/L的拉曼光谱中的定标峰高HRS，创建HSPR～HRS定标曲线，根据所述拉曼芯片质检达标规范制定质控限，实施所述拉曼芯片定标无损质检。无损质检过程中，为防止拉曼芯片在空气中氧化损伤，需设置在硝酸银溶液环境中完成，或真空环境中、或惰性气体中完成。
声明：
“银或金纳米粒子膜拉曼芯片定标无损质检方法与设备” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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