一种基于CR成像的GIS可视化无损检测方法,包括如下步骤:A.对GIS设备进行局放检测,将检测到的局放数据进行分析,确定缺陷大致位置;B.将CR胶片固定在检测出缺陷的GIS罐体上,利用X射线发射机,对局放出现异常的区域照射X射线投影于CR胶片上;C.将经过X射线照射的CR胶片放置在CR扫描仪中,并与电脑相连,将胶片上的数据读入电脑中,形成可视化图像;D.分析结果,确定GIS设备缺陷的位置及其性质。本发明可以确定GIS设备内部是否存在缺陷以及何种缺陷,同时直观地确定和识别出GIS设备内部缺陷的位置。
声明:
“基于CR成像的GIS可视化无损检测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)