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相控阵微波成像无损检测装置及方法

1141   编辑:管理员   来源:中冶有色网  
2023-03-19 08:57:48
本发明提供了一种相控阵微波成像无损检测装置及方法,包括:计算机、微波源、功率放大器、功率分配器、控制器、阵列天线、馈线、信号采集与处理器、变位机;计算机分别与控制器、信号采集与处理器、变位机连接;所述计算机包括一个检测模块,所述检测模块提供扫描控制参数,计算机将检测模块提供的扫描控制参数发送至控制器;控制器根据接收到的控制参数,控制微波源产生微波信号,微波源将微波信号传输至功率放大器。本发明所述的一种微波相控阵无损检测装置及方法相比于传统的方法,具有精度高、效率高、可实时成像等优点。
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“相控阵微波成像无损检测装置及方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
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