本实用新型公开了一种超声波无损检测减少盲区大晶片斜探头,涉及超声波无损检测技术领域。本实用新型有一探头主体,在探头主体的底部设置一层保护膜;保护膜的底端边缘与其上端边缘之间构成三角形检测区,底端边缘打磨长度为保护膜厚度的1.8-2.1倍。优点:本实用新型主要通过减少探头前沿长度的方法,达到超声波无损检测时减少一次波盲区的目的,这样探头可以更贴近工件被检测区域。
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