本发明涉及一种陶瓷基
复合材料的太赫兹无损检测方法可包括下列步骤:S1、建立稳定的太赫兹无损检测成像测试系统;S2、应用步骤S1建立的太赫兹无损检测成像测试系统对由陶瓷基复合材料制成的试样进行太赫兹无损检测成像测试;S3、对步骤S2得到的试样太赫兹图像进行后期处理,以识别出试样的缺陷。本发明通过对成像模式的调节和后期的太赫兹图像处理,可以有效地对陶瓷基复合材料内部及表面不同深度和宽度的缺陷进行无损检测。
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我是此专利(论文)的发明人(作者)