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薄化表面等离子体共振金膜的方法

753   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 07:45:48
本发明属于表面等离子体共振金基膜制备技术领域。本发明的方法主要是将具有较大厚度的表面等离子体共振金基膜在含有合适氯离子浓度的溶液中,在一定电压范围内进行电化学扫描。在每次扫描后记录表面等离子体共振曲线,根据表面等离子体共振曲线与金基膜厚度间的对应关系来确定金基膜厚度,结果证明,当表面等离子体共振金基膜厚度不超过95nm时,这种方法能够将金基膜厚度可控的薄化到适合于表面等离子体共振分析40-60nm的厚度。得到的表面等离子体共振金基膜适用于一般的表面等离子体共振金膜分析。
声明:
“薄化表面等离子体共振金膜的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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