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基于高光谱的米粒品质功能基因解析方法

744   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 07:29:30
本发明公开了一种基于高光谱的米粒品质功能基因解析方法,包括:使用高光谱成像系统采集米粒图像并进行图像处理,获取光谱指数;使用化学方法人工测定米粒的蛋白质含量和直链淀粉含量,作为人工测量值;光谱指数与人工测量值相关性分析与建模;光谱指数作为基于图像信息的表型性状进行全基因组关联分析,获取相关的候选基因;候选基因的功能验证。米粒品质的传统人工检测为有损测量,该方法基于高光谱获取米粒表型数据信息,结合光谱与图像处理技术可实现米粒品质相关指标的无损检测,提高检测精度,同时提高GWAS分析结果的准确度。此外,该方法结合遗传转化对候选基因进行功能验证,使验证结果更具有说服力,可为水稻品质育种提供新材料
声明:
“基于高光谱的米粒品质功能基因解析方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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