本发明公开了一种应用X荧光压片法测定氧化铁粉中组分含量的方法,其方法步骤为:A、制备标准样片一;B、制备标准样片二;C、制备待测样片;D、氧化铁粉中杂质组分含量的测定。本方法解决了氧化铁粉中多种组分含量不能联合测定问题,能够快速准确测定出氧化铁粉中多种组分的含量,方法快速准确,不仅拓宽了X荧光光谱仪的分析范围,还可以让生产厂及时掌握氧化铁粉主要化学成分,从而更好的控制生产工艺。本方法对提高冷轧厂氧化铁粉的品位具有很好的指导意义。本方法利用现有仪器设备即可进行,具有操作简单、易于实现、准确性和再现性良好的特点。
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