本申请提供了一种
电化学装置和电子装置,其包括负极极片,负极极片包括
负极材料层,负极材料层包括负极活性材料,负极活性材料包括石墨,其中,满足(d1/d2‑1)×100%≤0.56%,3.3600≤d1≤3.3720;其中,为采用X射线衍射仪测试,将所述负极材料层进行烧结处理得到的所述负极活性材料的(002)晶面的晶面间距;为采用X射线衍射仪测试,所述负极材料层中的负极活性材料的(002)晶面的晶面间距。本申请提供的电化学装置的负极极片在循环过程中具有低的膨胀率,从而电化学装置在循环过程中也具有低的膨胀率。
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我是此专利(论文)的发明人(作者)